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专利摘要

本发明公开了一种精制大米加工方法,包括以下步骤:稻谷筛选;去石;磁选并稻谷去壳;谷糙分离;二次剥壳;厚度分级;测量水分、烘干或雾化;碾米白米分级;凉米;抛光;色选;二次白米分级检测水分含量、包装。
本发明采用多道除杂质工序,保证了稻谷的纯度,生产出的大米的纯度高,保证加工过程中安全性和加工效率。
本发明在稻谷去壳、辗米工序,都严格控制物料温度使物料一直处在一个较低温度的合适环境中,减少了大米的爆腰率和碎米率,提高了整粒率;保留了大米的原有清香。
本发明通过控制抛光水温度和着水量,解决了大米在抛光过程中的表面损坏和抛光不均匀的问题,保证抛光后大米全部米粒表面光滑洁净,延长大米保质期。

专利状态

基础信息

专利号
CN201510201401.8
申请日
2015-04-25
公开日
2015-08-05
公开号
CN104815714A
主分类号
/B/B02/ 作业;运输
标准类别
破碎、磨粉或粉碎;谷物碾磨的预处理
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
失效

发明人

倪迎春

申请人

安徽友源食品有限公司

申请人地址

231400 安徽省安庆市桐城市民营经济开发区兴隆路1号

专利摘要

本发明公开了一种精制大米加工方法,包括以下步骤:稻谷筛选;去石;磁选并稻谷去壳;谷糙分离;二次剥壳;厚度分级;测量水分、烘干或雾化;碾米白米分级;凉米;抛光;色选;二次白米分级检测水分含量、包装。
本发明采用多道除杂质工序,保证了稻谷的纯度,生产出的大米的纯度高,保证加工过程中安全性和加工效率。
本发明在稻谷去壳、辗米工序,都严格控制物料温度使物料一直处在一个较低温度的合适环境中,减少了大米的爆腰率和碎米率,提高了整粒率;保留了大米的原有清香。
本发明通过控制抛光水温度和着水量,解决了大米在抛光过程中的表面损坏和抛光不均匀的问题,保证抛光后大米全部米粒表面光滑洁净,延长大米保质期。

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