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专利摘要

本发明提供了一种利用静电解析聚乙烯生长形貌的系统和方法。
解析方法包括如下步骤:1)取未造粒原生态聚乙烯颗粒筛分获得不同平均粒径的窄粒径分布聚乙烯样品;2)将窄粒径分布聚乙烯样品置于冷模流化床中,流化;3)将流化后的样品取出,置于直流静电场分选装置中进行分离;4)收集分离后的带正电颗粒和带负电颗粒,拍摄颗粒表面形貌图像,用气体吸附法测量颗粒比表面积,计算形貌特异化系数;5)选取其他窄粒径分布的聚乙烯样品重复步骤2‑4,直至获得所有窄粒径聚乙烯样品的表面形貌图像与形貌特异化系数。
该系统与方法具有以下优点:1)对不同形貌聚乙烯颗粒分选的准确性较高;2)适用性广泛;3)适用于大批量分离操作。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010435987.5
申请日
2020-05-21
公开日
2020-10-27
公开号
CN111822151A
主分类号
/B/B03/ 作业;运输
标准类别
用液体或用风力摇床或风力跳汰机分离固体物料;从固体物料或流体中分离固体物料的磁或静电分离;高压电场分
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

杨遥 王洁 何青 葛世轶 黄正梁 孙婧元 历伟 王靖岱 蒋斌波 阳永荣 廖祖维

申请人

浙江大学

申请人地址

310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

专利摘要

本发明提供了一种利用静电解析聚乙烯生长形貌的系统和方法。
解析方法包括如下步骤:1)取未造粒原生态聚乙烯颗粒筛分获得不同平均粒径的窄粒径分布聚乙烯样品;2)将窄粒径分布聚乙烯样品置于冷模流化床中,流化;3)将流化后的样品取出,置于直流静电场分选装置中进行分离;4)收集分离后的带正电颗粒和带负电颗粒,拍摄颗粒表面形貌图像,用气体吸附法测量颗粒比表面积,计算形貌特异化系数;5)选取其他窄粒径分布的聚乙烯样品重复步骤2‑4,直至获得所有窄粒径聚乙烯样品的表面形貌图像与形貌特异化系数。
该系统与方法具有以下优点:1)对不同形貌聚乙烯颗粒分选的准确性较高;2)适用性广泛;3)适用于大批量分离操作。

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