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专利摘要

为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部,该微粒分析装置的特征在于,具有:旋流集尘装置(14);一级过滤器(16),其与旋流集尘装置(14)的下游连接,并被加热;气体分析装置(31),其与一级过滤器(16)连接;气体配管部,其将旋流集尘装置(14)与气体分析装置(31)连接,并设置有一级过滤器(16);以及清洗气体导入装置(21),其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘装置(14)中的至少一方导入清洗气体,在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时,与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。

专利状态

基础信息

专利号
CN201980021602.6
申请日
2019-03-01
公开日
2020-11-06
公开号
CN111902710A
主分类号
/B/B04/ 作业;运输
标准类别
用于实现物理或化学工艺过程的离心装置或离心机
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

熊野峻 永野久志 伊藤孝广 水野弘基 野尻辰夫 杉山益之

申请人

株式会社日立制作所

申请人地址

日本东京都

专利摘要

为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部,该微粒分析装置的特征在于,具有:旋流集尘装置(14);一级过滤器(16),其与旋流集尘装置(14)的下游连接,并被加热;气体分析装置(31),其与一级过滤器(16)连接;气体配管部,其将旋流集尘装置(14)与气体分析装置(31)连接,并设置有一级过滤器(16);以及清洗气体导入装置(21),其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘装置(14)中的至少一方导入清洗气体,在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时,与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。

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