本发明公开了芯片检测技术领域的一种芯片批量快速检测装置，包括检测外壳，所述检测外壳内腔左侧开设有滑槽，所述滑槽内腔左侧活动连接有支撑板，所述检测外壳内腔顶部左侧安装有与滑槽位置相匹配的液压伸缩板，所述液压伸缩板底部均匀安装有检测针，所述检测外壳内腔中部左侧安装有主动轮，所述主动轮后端面安装有有伺服电机，与往复移动装置连接的固定杆一与固定杆二带动清理刷对厚度检测槽一和厚度检测槽二上被阻挡的芯片进行清理，将厚度检测槽一上的芯片通过清理刷移动到次品收集箱二内腔中，被厚度检测槽二阻挡的厚度合格芯片通过清理刷移动到合格品收集箱内腔中，及时将合格品与次品分别放入对应收集箱，避免散乱难以区分。

罗春芳 唐兴云

深圳市民芳光电有限公司

518000 广东省深圳市宝安区松岗街道沙浦社区洋涌工业区二路1号A栋201

本发明公开了芯片检测技术领域的一种芯片批量快速检测装置，包括检测外壳，所述检测外壳内腔左侧开设有滑槽，所述滑槽内腔左侧活动连接有支撑板，所述检测外壳内腔顶部左侧安装有与滑槽位置相匹配的液压伸缩板，所述液压伸缩板底部均匀安装有检测针，所述检测外壳内腔中部左侧安装有主动轮，所述主动轮后端面安装有有伺服电机，与往复移动装置连接的固定杆一与固定杆二带动清理刷对厚度检测槽一和厚度检测槽二上被阻挡的芯片进行清理，将厚度检测槽一上的芯片通过清理刷移动到次品收集箱二内腔中，被厚度检测槽二阻挡的厚度合格芯片通过清理刷移动到合格品收集箱内腔中，及时将合格品与次品分别放入对应收集箱，避免散乱难以区分。