本发明涉及一种电子部件测试用分选机。
根据本发明的电子部件测试用分选机中，在开闭测试腔室的第一出入口的开闭装置开放所述第一出入口后封闭所述第一出入口之前，将载有完成测试的电子部件的测试托盘从测试腔室搬出，并将载有需要测试的电子部件的测试托盘搬入测试腔室。
根据本发明，具有可以最小化测试腔室的温度环境的损失并提高处理容量的效果。

金祚熙 金东一 金元熙

泰克元有限公司

韩国京畿道华城市

本发明涉及一种电子部件测试用分选机。
根据本发明的电子部件测试用分选机中，在开闭测试腔室的第一出入口的开闭装置开放所述第一出入口后封闭所述第一出入口之前，将载有完成测试的电子部件的测试托盘从测试腔室搬出，并将载有需要测试的电子部件的测试托盘搬入测试腔室。
根据本发明，具有可以最小化测试腔室的温度环境的损失并提高处理容量的效果。