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专利摘要

本发明实施例提供一种光学防伪元件及其制作方法,属于光学防伪领域。
所述光学防伪元件包括:基材;位于所述基材上的起伏结构层,该起伏结构层至少包括由第一微结构组成的第一区域和由第二微结构组成的第二区域,其中所述第一微结构的深宽比小于所述第二微结构的深宽比;仅位于所述第一区域上的反射层;位于所述反射层之上且覆盖所述第一区域的至少第一子区域的介质层;以及位于所述介质层之上且仅覆盖所述第一区域的所述第一子区域而不覆盖所述第一区域的第二子区域的吸收层。
其能够大大提高光学防伪产品的防伪力度。

专利状态

基础信息

专利号
CN201711294804.7
申请日
2017-12-08
公开日
2019-06-18
公开号
CN109895526A
主分类号
/B/B42/ 作业;运输
标准类别
装订;图册;文件夹;特种印刷品
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

胡春华 朱军 吴远启 张巍巍 封敏宇

申请人

中钞特种防伪科技有限公司 中国印钞造币总公司

申请人地址

100070 北京市丰台区科学城星火路6号

专利摘要

本发明实施例提供一种光学防伪元件及其制作方法,属于光学防伪领域。
所述光学防伪元件包括:基材;位于所述基材上的起伏结构层,该起伏结构层至少包括由第一微结构组成的第一区域和由第二微结构组成的第二区域,其中所述第一微结构的深宽比小于所述第二微结构的深宽比;仅位于所述第一区域上的反射层;位于所述反射层之上且覆盖所述第一区域的至少第一子区域的介质层;以及位于所述介质层之上且仅覆盖所述第一区域的所述第一子区域而不覆盖所述第一区域的第二子区域的吸收层。
其能够大大提高光学防伪产品的防伪力度。

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