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专利摘要

本文描述了一种适于从微电子器件同时去除硅和硅‑锗的蚀刻溶液,其包含:水;氧化剂;包含胺化合物(或铵化合物)和多官能有机酸的缓冲组合物;水混溶性溶剂;和氟离子源。

专利状态

基础信息

专利号
CN201880063847.0
申请日
2018-09-28
公开日
2021-07-20
公开号
CN111164183B
主分类号
/C/C09/ 化学;冶金
标准类别
染料;涂料;抛光剂;天然树脂;黏合剂;其他类目不包含的组合物;其他类目不包含的材料的应用
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

葛智逵 李翊嘉 刘文达 郭致贤 A·J·亚当齐克

申请人

弗萨姆材料美国有限责任公司

申请人地址

美国亚利桑那州

专利摘要

本文描述了一种适于从微电子器件同时去除硅和硅‑锗的蚀刻溶液,其包含:水;氧化剂;包含胺化合物(或铵化合物)和多官能有机酸的缓冲组合物;水混溶性溶剂;和氟离子源。

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