目录

专利摘要

本发明提出了一种通过抗坏血酸部分还原硫化铋制造硫空位的方法,还原后的硫化铋纳米线宽度在50‑300纳米,长度在100‑200微米。
该材料可以作为电催化二氧化碳还原的活性材料,利用硫空位对二氧化碳还原活性中间体的特异性吸附,表现出优异的甲酸产物选择性。
本发明具有工艺简单、反应条件温和、材料电化学性能优异等特点。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010213700.4
申请日
2020-03-24
公开日
2021-06-08
公开号
CN111389417B
主分类号
/C/C25/ 化学;冶金
标准类别
电解或电泳工艺;其所用设备
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

麦立强 朱杰鑫 杨雯暄 韩春华

申请人

武汉理工大学

申请人地址

430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

专利摘要

本发明提出了一种通过抗坏血酸部分还原硫化铋制造硫空位的方法,还原后的硫化铋纳米线宽度在50‑300纳米,长度在100‑200微米。
该材料可以作为电催化二氧化碳还原的活性材料,利用硫空位对二氧化碳还原活性中间体的特异性吸附,表现出优异的甲酸产物选择性。
本发明具有工艺简单、反应条件温和、材料电化学性能优异等特点。

相似专利技术