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专利摘要

一种快速精确测量光学腔自由光谱区的装置及方法,属于光学技术领域。
本发明装置包括单频激光器、光学腔,电光调制器,光电探测器,示波器,射频信号源,低频信号源,高压放大器;通过单频激光器输出光经电光调制器调制后产生载波和调制边带,将调制后的光束注入光学腔,使用低频信号源给高压放大器输入一个三角波信号用来扫描光学腔的腔长,此时示波器上可以显示出载波和调制边带,通过射频信号源调节电光调制器的频率进而调节调制边带频率;通过观察示波器,当调制边带与载波重合使载波强度达到最大时,相当于载波与边带的频率间隔为一个自由光谱范围,此时信号源上的调制频率对应的即为此光学腔的自由光谱范围。

专利状态

基础信息

专利号
CN202011004925.5
申请日
2020-09-22
公开日
2021-07-27
公开号
CN112161706B
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

王雅君 武奕淼 郑耀辉 田龙

申请人

山西大学

申请人地址

030006 山西省太原市坞城路92号

专利摘要

一种快速精确测量光学腔自由光谱区的装置及方法,属于光学技术领域。
本发明装置包括单频激光器、光学腔,电光调制器,光电探测器,示波器,射频信号源,低频信号源,高压放大器;通过单频激光器输出光经电光调制器调制后产生载波和调制边带,将调制后的光束注入光学腔,使用低频信号源给高压放大器输入一个三角波信号用来扫描光学腔的腔长,此时示波器上可以显示出载波和调制边带,通过射频信号源调节电光调制器的频率进而调节调制边带频率;通过观察示波器,当调制边带与载波重合使载波强度达到最大时,相当于载波与边带的频率间隔为一个自由光谱范围,此时信号源上的调制频率对应的即为此光学腔的自由光谱范围。

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