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专利摘要

本发明公开了一种连续晶体伽马探测器的三维位置刻度方法、装置及设备,该方法包括:采集非准直源照射条件下每个伽马事件的探测器输出信号;基于非准直源照射条件,确定伽马事件在探测器内的真实三维作用位置分布;根据每个伽马事件的探测器输出信号,对所有伽马事件进行初始分区;根据所有伽马事件的分区结果,确定对应每个分区的伽马事件的初始探测器输出响应;根据当前探测器输出响应及伽马事件在探测器内的三维作用位置分布,构建用于优化探测器输出响应的代价函数;对代价函数进行极小值迭代优化求解,更新每个三维位置分区的探测器输出响应,完成探测器的三维位置刻度。
该方法简化了三维位置刻度流程,提高了位置刻度的精确性。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010586856.7
申请日
2020-06-24
公开日
2021-07-23
公开号
CN111736203B
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

范鹏 夏彦 杨晓宁 马天予 刘亚强

申请人

北京卫星环境工程研究所

申请人地址

100094 北京市海淀区友谊路104号

专利摘要

本发明公开了一种连续晶体伽马探测器的三维位置刻度方法、装置及设备,该方法包括:采集非准直源照射条件下每个伽马事件的探测器输出信号;基于非准直源照射条件,确定伽马事件在探测器内的真实三维作用位置分布;根据每个伽马事件的探测器输出信号,对所有伽马事件进行初始分区;根据所有伽马事件的分区结果,确定对应每个分区的伽马事件的初始探测器输出响应;根据当前探测器输出响应及伽马事件在探测器内的三维作用位置分布,构建用于优化探测器输出响应的代价函数;对代价函数进行极小值迭代优化求解,更新每个三维位置分区的探测器输出响应,完成探测器的三维位置刻度。
该方法简化了三维位置刻度流程,提高了位置刻度的精确性。

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