目录

专利摘要

本发明公开了一种原子干涉仪中原子团轨迹测量方法,该方法能够测量原子团三维方向上的位置,可以提高轨迹测量精度,测量过程中在分离式三脉冲原子干涉仪的基础上不增加任何额外器件,操作方便,能够简化测量流程。
本发明还公布了一种原子干涉仪中原子团轨迹的测量装置,包括真空腔体和磁场线圈等组成的物理系统、拉曼激光和冷却激光等组成的光学系统,以及光电探测器等组成的电路系统。
本发明可以用于原子惯性测量领域,提高原子干涉仪的性能。

专利状态

基础信息

专利号
CN202011260575.9
申请日
2020-11-12
公开日
2021-07-20
公开号
CN112485822B
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

陈红辉 王谨 詹明生 姚战伟 鲁思滨 李润兵 陆泽茜 陈小莉 蒋敏 余庚华 罗军

申请人

中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 中国科学院大学

申请人地址

430071 湖北省武汉市武昌区小洪山西30号

专利摘要

本发明公开了一种原子干涉仪中原子团轨迹测量方法,该方法能够测量原子团三维方向上的位置,可以提高轨迹测量精度,测量过程中在分离式三脉冲原子干涉仪的基础上不增加任何额外器件,操作方便,能够简化测量流程。
本发明还公布了一种原子干涉仪中原子团轨迹的测量装置,包括真空腔体和磁场线圈等组成的物理系统、拉曼激光和冷却激光等组成的光学系统,以及光电探测器等组成的电路系统。
本发明可以用于原子惯性测量领域,提高原子干涉仪的性能。

相似专利技术

无相关信息