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一种pH传感器及其制备方法

申请号: CN201811514391.3
申请人: 有研工程技术研究院有限公司
申请日期: 2018年12月11日

摘要文本

本发明公开了一种pH传感器及其制备方法。该pH传感器包括绝缘衬底材料、沉积在该绝缘衬底材料上的MoS2薄膜、源电极、漏电极以及电介质材料;其中,源电极、漏电极与电介质材料形成在MoS2薄膜周围构成封闭的传感器槽。其制备方法包括以下步骤:(1)清洗衬底,在衬底上涂一层光刻胶;(2)在光刻胶上曝光形成MoS2薄膜沉积区域;(3)使用化学气相沉积技术在该区域沉积MoS2,形成MoS2薄膜;(4)去除光刻胶保留MoS2薄膜图形,然后在MoS2薄膜图形的外侧形成源电极和漏电极;(5)沉积电介质材料形成传感器槽,得到pH传感器的器件单元。本发明构建的pH传感器电学信号优越,灵敏度高,且具有良好的稳定性。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种pH传感器及其制备方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201811514391.3
申请日 2018年12月11日
公告号 CN111307911B
公开日 2024年1月9日
IPC主分类号 G01N27/414
权利人 有研工程技术研究院有限公司
发明人 赵鸿滨; 屠海令; 魏峰; 张国成
地址 北京市怀柔区雁栖经济开发区兴科东大街11号

专利主权项内容

1.一种pH传感器,其特征在于,包括绝缘衬底材料、沉积在该绝缘衬底材料上的MoS薄膜、源电极、漏电极以及电介质材料;其中,源电极、漏电极与电介质材料形成在MoS薄膜周围构成封闭的传感器槽;所述pH传感器的制备方法包括以下步骤:22(1)清洗衬底,在衬底上涂一层光刻胶;(2)在光刻胶上曝光形成MoS薄膜沉积区域;2(3)使用化学气相沉积技术在该区域沉积MoS,形成MoS薄膜;22(4)去除光刻胶保留MoS薄膜图形,然后在MoS薄膜图形的外侧形成源电极和漏电极;源电极与漏电极的厚度均为500nm,两个电极之间间隔10μm;22(5)使用光刻以及磁控溅射方法生长HfO电介质层,厚度为500nm,形成传感器槽,得到pH传感器的器件单元。2