一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置及试验机
摘要文本
本发明提供一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置,包括上下两个固定台,还包括两个及以上数量的直线位移传感器,所述直线位移传感器在拉伸过程中探测发生的位移且与分析设备信号连接。还提供一种适用于材料拉伸试验的试验机,采用本发明所述的位移测量装置。本发明中的位移测量装置及试验机能很好的满足材料拉伸试验中全过程位移测量的需求,能够获得准确的材料应力‑应变全过程曲线,不采用引伸计,解决了引伸计测量法中需提前松开引伸计和不能测得应力‑应变全过程曲线的问题,避免了试样断裂时引伸计被损坏,简化了材料拉伸试验的操作步骤;使用范围广,不受材料的尺寸限制或断裂伸长率的大小限制,可以用于大尺寸材料及断裂伸长率大的拉伸试验中的位移测量。
申请人信息
- 申请人:北京交通大学
- 申请人地址:100044 北京市海淀区西直门外上园村3号北京交通大学-畅园4号楼1403室
- 发明人: 北京交通大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置及试验机 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810270428.6 |
| 申请日 | 2018年3月29日 |
| 公告号 | CN108562489B |
| 公开日 | 2024年3月19日 |
| IPC主分类号 | G01N3/08 |
| 权利人 | 北京交通大学 |
| 发明人 | 祝文君; 强伟乐; 井国庆; 黄刚 |
| 地址 | 北京市海淀区西直门外上园村3号 |
专利主权项内容
1.一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置,包括上下两个固定台,其特征在于:还包括两个及以上数量的直线位移传感器,所述直线位移传感器在拉伸过程中探测发生的位移且与分析设备信号连接;还包括两个及以上数量的导杆、套管;所述导杆对称地连接在上固定台,所述套管对称地连接在下固定台;每个所述导杆能分别与每个所述套管套装,每个所述直线位移传感器固定连接在所述导杆上并通过导线与分析设备信号连接;试件通过紧固螺钉固定,所述紧固螺钉包括弹簧,并通过所述弹簧与试件弹性连接;试验过程中,将待测棒状试件分别穿过上下固定台至合适位置,拧紧带弹簧的紧固螺钉,使得棒状试件的上下测点刚好落在紧固螺钉的中心轴上;所述上固定台和下固定台分别为整体结构,且分别设有安装试件的孔;所述上固定台和下固定台分别由两块半固定台拼装并由螺钉固定而成,拼接而成的上固定台和下固定台分别包括容纳试件的孔,每块上半固定台上连接数量相同且位置对称的导杆,每块下半固定台连接数量相同且位置对称的套管。