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安检系统和方法
摘要文本
本公开提供了一种安检系统。所述系统包括:一个或多个安检模块,该安检模块包括收发组件和光学组件,其中的收发组件发射检测信号并接收反射信息,其中的光学组件基于所述检测信号形成竖直方向的扇形波束,其中,所述反射信号由所述扇形波束经由待检测体反射得到。本公开还提供了一种安检方法。
申请人信息
- 申请人:清华大学
- 申请人地址:100084 北京市海淀区清华园1号
- 发明人: 清华大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 安检系统和方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810116566.9 |
| 申请日 | 2018年2月5日 |
| 公告号 | CN108490497B |
| 公开日 | 2024年3月22日 |
| IPC主分类号 | G01V8/00 |
| 权利人 | 清华大学 |
| 发明人 | 赵自然; 乔灵博; 王迎新; 于洋 |
| 地址 | 北京市海淀区双清路30号清华大学清华园北京100084-82信箱 |
专利主权项内容
1.一种安检系统,包括:一个或多个安检模块,所述安检模块包括:收发组件,发射检测信号并接收反射信号,所述收发组件包括收发器,产生发射信号;光学组件,基于所述检测信号形成竖直方向的扇形波束,其中,所述反射信号由所述扇形波束经由待检测体反射得到;混频单元,连接于所述收发器,基于所述发射信号和本振信号混频得到参考信号,以及基于所述反射信号和本振信号混频得到测量信号;解调单元,解调所述参考信号与所述测量信号得到检测数据;处理模块,与所述解调单元连接,基于所述待检测体经过所述安检系统时不同时刻的不同检测数据,得到所述待检测体的竖直方向的多个切面扫描图,以及,基于所述多个切面扫描图,合成所述待检测体的三维图像;其中,所述本振信号由所述收发器产生,所述收发器包括毫米波收发器或太赫兹收发器。