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毫米波/太赫兹波成像设备对人体或物品进行检测的方法

申请号: CN201811654159.X
申请人: 同方威视技术股份有限公司; 清华大学
申请日期: 2018年12月29日

摘要文本

公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法,包括准光学组件,包括多面体转镜和第三反射板,多面体转镜能够绕其转动轴线转动,以使得多面体转镜上的多个反射板轮流用作第一反射板接收并反射来自第一被检对象的毫米波/太赫兹波波束;多个反射板中的与第一反射板相邻的另一反射板用作第二反射板接收并反射来自第二被检对象的毫米波/太赫兹波波束;斩波器,被配置成在任一时刻仅来自第一反射板或第三反射板反射的来自第二反射板的波束入射到探测器阵列,斩波器绕其中心轴线转动以使来自第一反射板和第三反射板的波束交替地由探测器阵列接收。该设备能够对两个被检对象同时成像,检测效率高、探测器利用率高。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 毫米波/太赫兹波成像设备对人体或物品进行检测的方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201811654159.X
申请日 2018年12月29日
公告号 CN109633775B
公开日 2024年1月26日
IPC主分类号 G01V8/22
权利人 同方威视技术股份有限公司; 清华大学
发明人 赵自然; 游燕; 金颖康; 马旭明; 解欢
地址 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层; 北京市海淀区双清路30号清华大学

专利主权项内容

1.一种毫米波/太赫兹波成像设备,包括准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和斩波器,所述准光学组件包括:多面体转镜,所述多面体转镜的每个侧面分别设置有反射板,所述多面体转镜能够绕其转动轴线转动,以使得多个反射板轮流用作第一反射板来接收并反射第一被检对象位于第一视场不同位置的部分自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波波束;多个所述反射板中的与所述第一反射板相邻的另一反射板用作第二反射板来接收并反射第二被检对象位于第二视场不同位置的部分自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波波束;和第三反射板,所述第三反射板适应于将来自所述第二反射板的毫米波/太赫兹波反射到所述斩波器上;所述斩波器位于所述第一反射板的反射波路和所述第三反射板的反射波路上,所述斩波器被配置成在任一时刻仅来自所述第一反射板的毫米波/太赫兹波或仅来自所述第三反射板的毫米波/太赫兹波反射或透射到所述毫米波/太赫兹波探测器阵列,所述斩波器绕其中心轴线转动以使来自所述第一反射板和所述第三反射板的毫米波/太赫兹波交替地由所述毫米波/太赫兹波探测器阵列接收;以及所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束。 来自:马 克 团 队