低本底α、β测量装置

专利主权项内容

1.一种低本底α、β测量装置，其特征在于，包括：主探测器、反符合探测器和控制电路，其中，所述主探测器和所述反符合探测器分别与所述控制电路相连接；所述主探测器用于采集主探测信号，并将所述主探测信号输入至所述控制电路，其中，所述主探测信号为基于样品产生的α、β射线，和/或，环境本底辐射生成的探测信号；所述反符合探测器用于采集反符合信号，并将所述反符合信号输入至所述控制电路，其中，所述反符合信号为基于环境本底辐射生成的探测信号；所述控制电路用于所述主探测信号和所述反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰，并在确定出未受到干扰时，统计α、β活度测量的测量结果；所述控制电路数量均为多个，其中，所述主探测器分别与每个所述控制电路相连接，用于向每个所述控制电路发送所述主探测信号；所述反符合探测器与每个所述控制电路相连接，用于向每个所述控制电路发送所述反符合信号；所述反符合探测器包括：反符合闪烁体、第二低钾光电倍增管、第二前置放大分压电路，其中，所述第二低钾光电倍增管与所述第二前置放大分压电路的输入端相连接，所述第二前置放大分压电路的输出端与所述反符合闪烁体相连接，所述反符合闪烁体用于吸收环境本底辐射，并基于所述环境本底辐射产生荧光；所述第二低钾光电倍增管用于将所述荧光转换为电信号；所述第二前置放大分压电路用于对所述电信号进行放大，放大之后得到所述反符合信号。