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一种原位透射电镜仿真环境样品杆系统及其使用方法
摘要文本
本发明涉及材料测试技术领域，具体为一种原位透射电镜仿真环境样品杆系统及其使用方法。该系统包括：气密圆形连接器、外围设备、样品杆、计算机、密封腔室、外场微型芯片，具体结构如下：样品杆的一端设置气密圆形连接器，样品杆的另一端设置密封腔室，密封腔室内设置外场微型芯片，外围设备输出端通过管路、气密圆形连接器和样品杆内腔连至密封腔室，计算机输出端的线路穿过气密圆形连接器和样品杆内腔连至密封腔室。本发明最大限度地实现了在复杂气态/液态仿真环境中材料的宏观性能与气/液/固界面反应机制的测量与研究，广泛适用于探究各种高温、低温化学合成反应、材料相变、电化学反应、低温生物化学反应等。。（来 自 马 克 数 据 网）
申请人信息
- 申请人:中国科学院金属研究所
- 申请人地址:110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
- 发明人: 中国科学院金属研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种原位透射电镜仿真环境样品杆系统及其使用方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201610374405.0 |
| 申请日 | 2016年5月30日 |
| 公告号 | CN107452585B |
| 公开日 | 2024年1月23日 |
| IPC主分类号 | H01J37/20 |
| 权利人 | 中国科学院金属研究所 |
| 发明人 | 姜辛; 邰凯平; 刘鲁生; 赵洋; 靳群; 乔吉祥 |
| 地址 | 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号 |
专利主权项内容
1.一种原位透射电镜仿真环境样品杆系统，其特征在于，该系统包括：气密圆形连接器、外围设备、样品杆、计算机、密封腔室、外场微型芯片，具体结构如下：样品杆的一端设置气密圆形连接器，样品杆的另一端设置密封腔室，密封腔室内设置外场微型芯片，外围设备输出端通过管路、气密圆形连接器和样品杆内腔连至密封腔室，计算机输出端的线路穿过气密圆形连接器和样品杆内腔连至密封腔室；外场微型芯片上设置与透射电镜电子束对应的透明SiN/SiO窗口，待分析样品放置于SiN/SiO窗口上；xxxx管路采用与气密圆形连接器配套的微型管路，微型管路为电路、光路、气路或液路。