表面温度和发射率的测量装置和测量方法
摘要文本
本发明公开了一种表面温度和发射率的测量装置和测量方法。测量装置包括反射转换器、光接收器和数据处理系统，反射转换器包括反射器和吸收管，反射器具有通孔，吸收管相对于反射器在第一测量位置和第二测量位置之间切换，在第一测量位置，吸收管的入光端接近或接触被测表面，以使光接收器直接接收被测表面发出的固有辐射光线并形成第一电信号；在第二测量位置，吸收管的入光端位于反射器的通孔处或通孔外，以使光接收器接收被测表面发出的固有辐射光线和反射器的反射面与被测表面之间的反射辐射光线并形成第二电信号；数据处理系统根据第一电信号和第二电信号形成表面温度和发射率。本发明能精确测量表面温度和发射率。。 （来自 马克数据网）
申请人信息
- 申请人:沈阳泰合冶金测控技术有限公司
- 申请人地址:110180 辽宁省沈阳市浑南新区浑河堡街2-6号(1-2-2)
- 发明人: 沈阳泰合冶金测控技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 表面温度和发射率的测量装置和测量方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201611213734.3 |
| 申请日 | 2016年12月26日 |
| 公告号 | CN108240865B |
| 公开日 | 2024年3月29日 |
| IPC主分类号 | G01J5/00 |
| 权利人 | 沈阳泰合冶金测控技术有限公司 |
| 发明人 | 谢植; 车勋建; 谢淇先; 王立忠 |
| 地址 | 辽宁省沈阳市浑南新区浑河堡街2-6号(1-2-2) |
专利主权项内容
1.一种表面温度和发射率的测量装置，包括反射转换器(1)、光接收器(5)和数据处理系统(6)，所述光接收器(5)与所述反射转换器(1)耦合，所述光接收器(5)接收由被测表面(9)发出的、并通过所述反射转换器(1)的辐射光线并将所述辐射光线转换为电信号，所述数据处理系统(6)与所述光接收器(5)耦合以接收所述电信号并根据所述电信号形成所述被测表面(9)的表面温度和发射率，其特征在于，所述反射转换器(1)包括反射器(1-1)、吸收管(1-2)和导光结构(4)，所述反射器(1-1)具有通孔(7)，所述吸收管(1-2)相对于所述反射器(1-1)位置可变地设置以使所述吸收管(1-2)在第一测量位置和第二测量位置之间切换，所述导光结构(4)位于所述吸收管(1-2)和所述光接收器(5)之间，其中，在所述第一测量位置，所述吸收管(1-2)通过所述通孔(7)穿设于所述反射器(1-1)的内部至所述吸收管(1-2)的入光端接近或接触所述被测表面(9)，以使所述光接收器(5)直接接收所述被测表面(9)发出的固有辐射光线并形成第一电信号；在所述第二测量位置，所述吸收管(1-2)的所述入光端位于所述反射器(1-1)的所述通孔(7)处或所述通孔(7)外，以使所述光接收器(5)接收所述被测表面(9)发出的固有辐射光线和所述反射器(1-1)的反射面(10)与所述被测表面(9)之间的反射辐射光线并形成第二电信号；所述光接收器(5)包括光电转换单元，所述光电转换单元与所述吸收管(1-2)耦合用于将辐射光线转换为电信号；所述数据处理系统(6)根据所述第一电信号和所述第二电信号形成所述被测表面(9)的表面温度和发射率。