← 返回列表
探测装置
摘要文本
本发明涉及一种探测装置，用于扫描成像设备，其包括：支座，支座具有弧形基面；后准组件，后准组件通过第一导轨滑动设置在支座上，以使后准组件能够相对于支座沿弧形基面的轴向进行直线运动；探测器组件，探测器组件通过第二导轨滑动设置在后准组件上，以使探测器组件能够相对后准组件沿弧形基面的轴向进行直线运动。本发明实施例探测装置包括的后准组件和探测器组件的位置均可根据实际应用要求进行调整，以使后准组件、探测器组件和光路对准，提高探测精度。 微信公众号马克 数据网
申请人信息
- 申请人:同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 发明人: 同方威视技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 探测装置 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201711008509.0 |
| 申请日 | 2017年10月25日 |
| 公告号 | CN107807405B |
| 公开日 | 2024年3月1日 |
| IPC主分类号 | G01V8/20 |
| 权利人 | 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人 | 张龙; 张丽; 洪明志; 梁晋宁 |
| 地址 | 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
专利主权项内容
1.一种探测装置，用于扫描成像设备，其特征在于，包括：支座，所述支座具有弧形基面；后准组件，所述后准组件通过第一导轨滑动设置在所述支座上，以使所述后准组件能够相对于所述支座沿所述弧形基面的轴向进行直线运动；探测器组件，所述探测器组件通过第二导轨滑动设置在所述后准组件上，以使所述探测器组件能够相对所述后准组件沿所述弧形基面的轴向进行直线运动，所述探测装置包括多个所述探测器组件，多个所述探测器组件沿着所述弧形基面的周向方向呈圆弧状排列，所述后准组件包括支撑框架以及设置于所述支撑框架上的后准直器，所述支撑框架包括沿所述弧形基面的轴向延伸的多个容纳部，所述容纳部的数量与所述探测器组件的数量一一对应，所述探测器组件设置于所述容纳部内，所述后准直器与所述探测器组件相对应地设置。