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探测装置及扫描成像设备
摘要文本
本发明涉及一种探测装置及扫描成像设备。探测装置包括:支座,具有相对设置的支承面以及弧形基面;支撑部件,设置于弧形基面,支撑部件与支座可拆卸连接,支撑部件具有朝向支座的配合面以及背向支座的定位面,配合面与弧形基面彼此形状匹配;探测器组件,设置于定位面,支撑部件设置于支座与探测器组件之间,探测器组件与支撑部件可拆卸连接,探测器组件包括多个探测器;多个探测器围绕弧形基面的轴线均匀分布。本发明实施例探测装置,包括分体结构的支座和支撑部件,能够在保证定位面满足加工精度要求的前提下,能够降低支座和支撑部件的加工制造难度,节约加工成本。
申请人信息
- 申请人:同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 发明人: 同方威视技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 探测装置及扫描成像设备 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201711014616.4 |
| 申请日 | 2017年10月25日 |
| 公告号 | CN107807138B |
| 公开日 | 2024年3月1日 |
| IPC主分类号 | G01N23/00 |
| 权利人 | 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人 | 张龙; 张丽; 洪明志; 梁晋宁 |
| 地址 | 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
专利主权项内容
1.一种探测装置,用于扫描成像设备,其特征在于,包括:支座,具有相对设置的支承面以及弧形基面,所述弧形基面被配置为所述弧形基面的轴线能够与水平轴线相交于一点;支撑部件,设置于所述弧形基面,所述支撑部件与所述支座可拆卸连接,所述支撑部件具有朝向所述支座的配合面以及背向所述支座的定位面,所述配合面与所述弧形基面彼此形状匹配;探测器组件,设置于所述定位面,所述支撑部件设置于所述支座与所述探测器组件之间,所述探测器组件与所述支撑部件可拆卸连接,所述探测器组件包括多个探测器;多个所述探测器围绕所述弧形基面的轴线均匀分布。