CT检查系统和CT成像方法
摘要文本
本发明涉及CT检测技术领域，特别涉及一种CT检查系统和CT成像方法。本发明所提供的CT检查系统，包括放射源装置、探测装置、旋转监控装置和成像装置，其中：探测装置获取探测数据的频率为放射源装置出束频率的N倍；旋转监控装置检测探测装置的旋转角度并在探测装置每旋转预设角度时向成像装置发送信号；成像装置根据旋转监控装置所发送的信号以及探测装置的探测数据确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息，并基于放射源装置每次出束时探测装置的探测数据及转动位置信息生成CT图像。本发明能够较为准确地确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息，从而可以有效减少图像形变，提高检测结果的准确性。。微信公众号马克 数据网
申请人信息
- 申请人:清华大学; 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区清华园
- 发明人: 清华大学; 同方威视技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | CT检查系统和CT成像方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201711451912.0 |
| 申请日 | 2017年12月28日 |
| 公告号 | CN108120729B |
| 公开日 | 2024年4月2日 |
| IPC主分类号 | G01N23/04 |
| 权利人 | 清华大学; 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人 | 康克军; 李荐民; 倪秀琳; 李玉兰; 李元景; 陈志强; 张丽; 李亮; 邹湘; 喻卫丰; 周合军; 宗春光 |
| 地址 | 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室; 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
专利主权项内容
1.一种CT检查系统，其特征在于，包括放射源装置(1)和探测装置(2)、旋转监控装置和成像装置，其中：所述放射源装置(1)和探测装置(2)在对待检物(a)进行扫描的至少部分过程中同步地进行非匀速转动，且所述探测装置(2)获取探测数据的频率为所述放射源装置(1)出束频率的N倍，N大于或等于2；所述旋转监控装置检测所述探测装置(2)的旋转角度并在所述探测装置(2)每旋转预设角度时向所述成像装置发送信号；所述成像装置根据所述旋转监控装置所发送的信号以及所述探测装置(2)在所述旋转监控装置每发送相邻两个信号之间的有用探测数据确定所述放射源装置(1)每次出束时所述探测装置(2)的转动位置信息，并基于所述放射源装置(1)每次出束时所述探测装置(2)的有用探测数据及转动位置信息生成CT图像；所述成像装置包括信息处理装置(52)；所述探测装置(2)在每次出束时获取N组探测数据，所述信息处理装置(52)判断所述放射源装置(1)是否出束，并进一步区别所述探测装置(2)所获取的探测数据中的有用探测数据和无用探测数据；基于所述旋转监控装置所发送的信号以及所述探测装置(2)在所述旋转监控装置每发送的相邻两个信号之间所获取的探测数据的数量，所述信息处理装置(52)确定相邻两个所述旋转监控装置的电平信号之间的多组探测数据对每个预设旋转角度的细分程度，从而确定所述探测装置(2)旋转预设角度过程中每组探测数据各自对应的所述探测装置(2)的旋转角度，并且结合所述信息处理装置(52)所确定的有用探测数据在相邻两个所述旋转监控装置的电平信号之间的多组探测数据中所处的数据序列，来确定所述探测装置(2)获取有用探测数据时的转动位置信息。 （来自 马克数据网）