透射率分布测量系统及方法
摘要文本
本发明提供了一种透射率分布测量系统及方法,属于光电子技术领域。该系统包括出光装置、平移台、成像装置以及控制装置,平移台用于放置待测样品,平移台位于出光装置与成像装置之间,成像装置与控制装置耦合。当待测样品置于样品台上时,探测光产生装置发出的探测光束入射到待测样品的待测区域,透过待测样品的探测光束入射到成像装置,在成像装置中所成的像被转换为电信号发送给控制装置。控制装置处理该电信号得到该待测区域的透射图像,并根据该透射图像及基准图像得到该待测区域的透射率分布数据。这样能够有效地提高系统的采样率,减少检测时间,提高测量效率。
申请人信息
- 申请人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址:621900 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 发明人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 透射率分布测量系统及方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710340790.1 |
| 申请日 | 2017年5月15日 |
| 公告号 | CN106970049B |
| 公开日 | 2024年1月2日 |
| IPC主分类号 | G01N21/59 |
| 权利人 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 发明人 | 马骅; 杨一; 原泉; 任寰; 张霖; 石振东; 马玉荣; 陈波; 杨晓瑜; 柴立群 |
| 地址 | 四川省绵阳市游仙区绵山路64号 |
专利主权项内容
1.一种透射率分布测量系统,其特征在于,包括出光装置、平移台、成像装置以及控制装置,所述平移台用于放置待测样品,所述平移台位于所述出光装置与所述成像装置之间,所述成像装置与所述控制装置耦合;当待测样品置于所述平移台上时,所述出光装置发出的探测光束入射到所述待测样品的待测区域,透过所述待测样品的探测光束入射到所述成像装置,在所述成像装置中所成的像被转换为电信号发送给所述控制装置;所述控制装置用于根据所述电信号得到所述待测区域的透射图像,根据所述透射图像及基准图像得到所述待测样品的待测区域的透射率分布数据,其中,所述基准图像为所述成像装置采集的所述出光装置发出的探测光束的图像;所述基准图像的采集方式为将所述待测样品从所述平移台上取下,所述出光装置发出的探测光束直接入射到所述成像装置中,此时所述成像装置采集到的图像即为所述基准图像;所述出光装置包括光源和光束调整模块,所述光源发出的初始光束经所述光束调整模块调整为满足预设条件的所述探测光束后入射到所述待测样品的待测区域;所述光源为激光器,所述光束调整模块包括匀光片,所述激光器发出的激光光束入射到所述匀光片,经所述匀光片处理为预设尺寸的均匀光束作为所述探测光束入射到所述待测样品;所述光束调整模块还包括分光器和稳功仪,所述稳功仪与所述激光器耦合,所述分光器设置于所述激光器与所述匀光片之间,所述激光器发出的激光光束入射到所述分光器,经所述分光器分出的一部分所述激光光束入射到所述匀光片,另一部分所述激光光束入射到所述稳功仪,所述稳功仪用于根据接收到的激光光束控制所述激光器的输出功率。