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制造和使用X射线检测器的方法
摘要文本
本文公开了制造和使用适于X射线检测的吸收单元阵列的方法以及包括这种吸收单元阵列的检测器。制造吸收单元阵列(410)的方法可包括在基板(400)上形成吸收单元阵列(410A)，并且在从基板(400)分离吸收单元阵列(410)之后形成保护环(431A，431B)，其包围吸收单元阵列(410)的多于一个吸收单元(420)；或者可包括在从基板(400)分离出一部分之后在基板(400)的该部分上形成多个吸收单元(420)，以及包围多于一个吸收单元(420)的保护环(431B)。使用吸收单元阵列(410)的方法可包括通过施加电压将吸收单元阵列(410)的一些吸收单元(420)用作保护环(431B)。适于X射线检测的检测器(100)包括吸收层(110)和电子层(120)，其中吸收层(110)包括吸收单元阵列(410)。
申请人信息
- 申请人:深圳帧观德芯科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区南海大道1019号南山医疗器械产业园A、B座B507
- 发明人: 深圳帧观德芯科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 制造和使用X射线检测器的方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201780093158.X |
| 申请日 | 2017年7月26日 |
| 公告号 | CN110914714B |
| 公开日 | 2024年2月27日 |
| IPC主分类号 | G01T1/24 |
| 权利人 | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 发明人 | 曹培炎; 刘雨润 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区南海大道1019号南山医疗器械产业园A、B座B507 |
专利主权项内容
1.一种用于制造检测器的方法，包括：将基板的一部分从所述基板分离；在分离所述基板的一部分之后，在所述基板的一部分上形成吸收单元阵列，所述吸收单元阵列包括掺杂侧壁和多个吸收单元，其中所述多个吸收单元配置成吸收X射线，其中所述掺杂侧壁包围所述多个吸收单元中的多于一个吸收单元，并且其中所述多个吸收单元中的第一多个吸收单元为所述吸收单元中的第二多个吸收单元提供电屏蔽。