测量不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率的装置及方法

专利主权项内容

1.一种测量不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率的装置, 其特征是：至少包括光源、平行光管、曲面镜、偏轴镜片组件、测量显微镜，光源在平行光管的前端, 在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板或鉴别率板提供物方像面, 曲面镜在平行光管的出口侧, 光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束，由曲面镜接收, 经过偏轴镜片组件进入像方成像面的测量显微镜，利用测量显微镜进行读数和测量；所述的曲面镜和偏轴镜片组件组成了不共轴光学系统，并通过夹持工装固定在光具座平台上，所述的测量显微镜固定在调节升降台上，所述的调节升降台包括升降调整机构、二维直线微动调整台和二维角度微动测量台, 升降调整机构、二维角度微动测量台和二维直线微动调整台构依次顺序从下至上在高度上进行叠加固定连接，叠加高度低于平行光管的输出像面轴线高度，便于调节测量显微镜光轴与不共轴光学系统光轴的等高，所述的测量显微镜通过固定座固定在调节升降台的二维直线微动调整台上。