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用于散射校准的系统和方法
摘要文本
关注公众号马克数据网 本申请提供了一种处理投影数据的方法。所述方法可以包括通过第一成像设备获取通过对对象执行第一扫描生成的第一图像(502)；基于第一图像确定第一投影数据，第一投影数据对应于对象的第一区域(504)；通过使用第二成像设备执行对象的第二扫描获取第二投影数据，第二投影数据对应于对象的第二区域，第一区域与第二区域在重叠区域中至少部分重叠(506)；通过根据重叠区域，将第一投影数据配准到第二投影数据，确定配准的第一投影数据(508)；基于配准的第一投影数据和第二投影数据，确定散射分量(510)，所述散射分量包括低频散射辐射信号。
申请人信息
- 申请人:上海联影医疗科技股份有限公司
- 申请人地址:201807 上海市嘉定区城北路2258号
- 发明人: 上海联影医疗科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 用于散射校准的系统和方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201880043750.3 |
| 申请日 | 2018年10月25日 |
| 公告号 | CN110914868B |
| 公开日 | 2024年2月23日 |
| IPC主分类号 | G06T11/00 |
| 权利人 | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 发明人 | 杨宏成; J·墨子 |
| 地址 | 上海市嘉定区城北路2258号 |
专利主权项内容
1.一种系统被配置为处理投影数据，包括：至少一种非暂时性存储介质，包括一组指令；以及至少一个处理器与所述至少一种非暂时性存储介质通信，其中，当执行所述指令时，所述至少一个处理器被配置为用于所述系统：通过第一成像设备获取通过对对象执行第一扫描生成的第一图像；基于所述第一图像确定第一投影数据，所述第一投影数据对应于所述对象的第一区域；通过使用第二成像设备执行对所述对象的第二扫描获取第二投影数据，所述第二投影数据对应于所述对象的第二区域，所述第一区域与所述第二区域在重叠区域中至少部分重叠；通过根据所述重叠区域，将所述第一投影数据配准到所述第二投影数据，确定配准的第一投影数据；基于所述配准的第一投影数据和所述第二投影数据，确定散射分量，所述散射分量包括低频散射辐射信号；以及基于所述散射分量和所述第二投影数据，确定校准的第二投影数据，包括：划分所述散射分量成两个或以上组；对于所述两个或以上组中的每一个组，基于组的散射分量，生成可信散射分量；以及基于所述可信散射分量，确定所述校准的第二投影数据。