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一种磁通门传感器噪声检测方法、系统及存储介质
摘要文本
本发明公开了一种磁通门传感器噪声检测方法、系统及存储介质，涉及磁通门传感器噪声检测技术领域，首先获取磁通门传感器灵敏度；获取磁通门传感器探头的开环灵敏度；将所述探头置于磁屏蔽模块中，得到磁通门传感器总噪声；设置探头替代电路以替代所述探头，并置于磁屏蔽模块中，得到探头以外的部分引入的外部噪声；基于所述磁通门传感器总噪声和所述外部噪声，获取探头的开环噪声；通过将所述开环噪声乘以磁通门传感器灵敏度与探头的开环灵敏度的比值，计算所述探头的闭环噪声；基于所述探头的闭环噪声和所述外部噪声，获取磁通门传感器实际噪声。本发明能够对探头和外部噪声分别开展噪声检测，且噪声检测准确率更高。
申请人信息
- 申请人:中国科学院地质与地球物理研究所
- 申请人地址:100029 北京市朝阳区北土城西路19号
- 发明人: 中国科学院地质与地球物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种磁通门传感器噪声检测方法、系统及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311648307.8 |
| 申请日 | 2023/12/4 |
| 公告号 | CN117665683A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G01R35/00 |
| 权利人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 发明人 | 李智; 葛亚松; 赵琳; 孙树全; 冯晓; 张莹 |
| 地址 | 北京市朝阳区北土城西路19号 |
专利主权项内容
1.一种磁通门传感器噪声检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、获取磁通门传感器灵敏度；步骤2、获取磁通门传感器探头的开环灵敏度；步骤3、将所述探头置于磁屏蔽模块中，得到磁通门传感器总噪声；步骤4、设置探头替代电路以替代所述探头，并置于磁屏蔽模块中，得到探头以外的部分引入的外部噪声；步骤5、基于所述磁通门传感器总噪声和所述外部噪声，获取探头的开环噪声；步骤6、通过将所述开环噪声乘以磁通门传感器灵敏度与探头的开环灵敏度的比值，计算所述探头的闭环噪声；步骤7、基于所述探头的闭环噪声和所述外部噪声，获取磁通门传感器实际噪声。