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对象分析方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
摘要文本
本申请公开了一种对象分析方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，本申请实施例通过获取待分析的多个目标对象组，以及获取目标对象组在至少一个画像标签上的分布指示参数；基于目标对象组在画像标签上的分布指示参数，确定目标对象组在画像标签上的分布程度；当存在至少两个目标对象组在同一目标标签上分布时，基于上述至少两个目标对象组在目标标签上的分布指示参数，确定上述至少两个目标对象组分别对应的分布向量；基于上述至少两个目标对象组分别对应的分布向量，得到上述至少两个目标对象组在目标标签上的分布差异信息。本申请实施例可以提高运营效果。
申请人信息
- 申请人:书行科技(北京)有限公司
- 申请人地址:100020 北京市朝阳区安定路5号院5号楼18层01单元
- 发明人: 书行科技(北京)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 对象分析方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311286428.2 |
| 申请日 | 2023/9/29 |
| 公告号 | CN117591786A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G06F17/16 |
| 权利人 | 书行科技(北京)有限公司 |
| 发明人 | 侯学博; 骁杰 |
| 地址 | 北京市朝阳区安定路5号院5号楼18层01单元 |
专利主权项内容
1.一种对象分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取待分析的多个目标对象组，以及获取所述目标对象组在至少一个画像标签上的分布指示参数，所述分布指示参数用于指示目标对象组在所述画像标签所属的至少一个标签值上的分布数量；基于所述目标对象组在所述画像标签上的分布指示参数，确定所述目标对象组在所述画像标签上的分布程度；当存在至少两个目标对象组在同一目标标签上分布时，基于所述至少两个目标对象组在所述目标标签上的分布指示参数，确定所述至少两个目标对象组分别对应的分布向量；基于所述至少两个目标对象组分别对应的分布向量，得到所述至少两个目标对象组在所述目标标签上的分布差异信息。