一种天基干涉成像雷达高度计方位时延确定方法及系统
摘要文本
本发明涉及一种天基干涉成像雷达高度计方位时延确定方法及系统，涉及干涉成像雷达高度计在轨定标技术领域。上述方法包括：获取第一观测图像，第一观测图像为天基干涉成像雷达高度计在目标观测条件下观测得到的目标区域对应的图像，对第一观测图像进行预处理，得到第二观测图像。根据第二观测图像对应的参考图像确定第二观测图像中每个像素点显示的地物对应的经度和纬度，进而确定第二观测图像中每个方位采样时间对应的星下点重定位位置。最后根据每个方位采样时间对应的星下点记录位置和星下点重定位位置确定天基干涉成像雷达高度计对应的方位时延。本发明提供的方法能够实现对方位时延的快速准确确定，节约定标时间，从而提升定标效率。
申请人信息
- 申请人:中国科学院空间应用工程与技术中心
- 申请人地址:100094 北京市海淀区邓庄南路9号
- 发明人: 中国科学院空间应用工程与技术中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种天基干涉成像雷达高度计方位时延确定方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311521680.7 |
| 申请日 | 2023/11/15 |
| 公告号 | CN117761684A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G01S13/88 |
| 权利人 | 中国科学院空间应用工程与技术中心 |
| 发明人 | 谭洪; 李盛阳 |
| 地址 | 北京市海淀区邓庄南路9号 |
专利主权项内容
来源：百度搜索马克数据网 。1.一种天基干涉成像雷达高度计方位时延确定方法，其特征在于，所述方法包括：获取第一观测图像，所述第一观测图像为天基干涉成像雷达高度计在目标观测条件下观测得到的目标区域对应的图像，所述第一观测图像为包括水体区域和陆地区域的斜距平面图像；对所述第一观测图像进行预处理，得到第二观测图像，所述第二观测图像为第一观测图像对应的地距平面图像；根据所述第二观测图像对应的参考图像确定所述第二观测图像中每个像素点显示的地物对应的经度和纬度，所述第二观测图像对应的参考图像为合成孔径雷达在所述目标观测条件下观测得到的所述目标区域对应的地距平面图像；根据所述第二观测图像中每个像素点显示的地物对应的经度和纬度，确定所述第二观测图像中多个方位采样时间中每个方位采样时间对应的星下点重定位位置；根据所述多个方位采样时间中每个方位采样时间对应的所述星下点记录位置和所述的星下点重定位位置确定所述天基干涉成像雷达高度计对应的方位时延，其中，所述星下点记录位置为所述天基干涉成像雷达高度计对应的雷达平台轨道数据中记录的星下点位置。