层理缝参数获取方法、装置、设备及可读存储介质

专利主权项内容

1.一种层理缝参数获取方法，其特征在于，包括：获取目标层理缝的扫描电镜图像，确定所述扫描电镜图像对应的二值图像；基于所述二值图像，确定所述目标层理缝的孔隙度和比表面积；对所述二值图像对应的图像矩阵进行分水岭分割，得到所述目标层理缝的平均孔隙半径和孔径标准偏差；所述基于所述二值图像，确定所述目标层理缝的孔隙度和比表面积包括：对所述二值图像中所有像素点的像素值进行取反处理，得到孔隙像素值；基于所述孔隙像素值确定孔隙面积，根据所述二值图像的像素总数和所述孔隙面积，确定所述目标层理缝的孔隙度；基于所述二值图像对应的边界像素矩阵确定孔隙周长；根据所述孔隙面积与所述孔隙周长的计算结果，确定所述目标层理缝的比表面积；所述基于所述二值图像对应的边界像素矩阵确定孔隙周长包括：基于所述二值图像中与背景像素相邻的前景像素，创建与所述二值图像大小相同的边界像素矩阵，其中，所述边界像素矩阵中的边界像素与所述前景像素位置对应；确定所述边界像素的总数为孔隙周长；所述对所述二值图像对应的图像矩阵进行分水岭分割，得到所述目标层理缝的平均孔隙半径和孔径标准偏差包括：对所述二值图像对应的图像矩阵进行分水岭分割，得到单个孔隙区域图像；确定所述图像矩阵中的目标元素，所述二值图像中与所述目标元素对应位置的目标像素，所述目标像素的最近非零像素，以及所述目标像素与所述最近非零像素的曼哈顿距离，所述目标元素的值为所述曼哈顿距离；根据所述二值图像中各像素在所述二值图像中的像素值，以及在所述单个孔隙区域图像中的像素值，确定各孔隙半径；基于各所述孔隙半径，确定所述目标层理缝的平均孔隙半径和孔径标准偏差。。来自：