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一种数字化拾取离子探测器性能分析的方法及系统
摘要文本
本发明涉及空间探测设备技术领域,特别涉及一种数字化拾取离子探测器性能分析的方法及系统。本发明方法包括:利用离子从入射阻滞势分析器到最终打到微通道板和固体半导体探测器上的过程中的参数信息计算各项指标,并判断各项指标是否在空间科学探测任务的工程技术指标范围内,进而对离子探测器性能进行评估;所述离子探测器包括:阻滞势分析器、静电分析器和线性飞行时间系统;参数信息包括离子的坐标、能量、方位角、俯仰角和飞行时间;各项指标包括静电分析器的固有能量分辨率,阻滞势分析器和静电分析器的总能量分辨率,离子探测器的探测方位角分辨率、探测俯仰角范围、俯仰角分辨率和几何因子。本发明对评估离子探测器探测能力有重要意义。
申请人信息
- 申请人:中国科学院国家空间科学中心
- 申请人地址:100190 北京市海淀区中关村南二条1号
- 发明人: 中国科学院国家空间科学中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种数字化拾取离子探测器性能分析的方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311447237.X |
| 申请日 | 2023/11/2 |
| 公告号 | CN117553847A |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | G01D21/02 |
| 权利人 | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 发明人 | 曹宇; 张玉珠; 彭晓东; 薛长斌; 苏斌; 徐海涛 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南二条1号 |
专利主权项内容
1.一种数字化拾取离子探测器性能分析的方法,该方法包括:利用离子从入射阻滞势分析器到最终打到微通道板和固体半导体探测器上的过程中的参数信息计算各项指标,并判断各项指标是否在空间科学探测任务的工程技术指标范围内,进而对离子探测器性能进行评估;所述离子探测器包括:阻滞势分析器、静电分析器和线性飞行时间系统;所述线性飞行时间系统包括:碳膜、微通道板和固体半导体探测器;所述参数信息包括:离子的坐标、能量、方位角、俯仰角和飞行时间;所述各项指标包括:静电分析器的固有能量分辨率,阻滞势分析器和静电分析器的总能量分辨率,离子探测器的探测方位角分辨率、探测俯仰角范围、俯仰角分辨率和几何因子。