← 返回列表

离子阱芯片参数标定方法及装置、电子设备和介质

申请号: CN202311443590.0
申请人: 北京百度网讯科技有限公司
申请日期: 2023/11/1

摘要文本

本公开提供了一种离子阱芯片参数标定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,涉及量子计算机领域,尤其涉及离子阱芯片技术领域。实现方案为:确定离子阱芯片中的一个或多个离子各自所在的位置;对于一个或多个离子中的每个离子,执行以下操作:通过激光器照射该离子,确定激光照射到该离子后的等效振幅;基于等效振幅,确定该离子对应的π脉冲时长;以及基于π脉冲时长设置激光器的脉冲时间,并在第一预设范围内按第一预设步长改变激光器的频率,以确定声子频率、以及所子和该离子之间的耦合强度。π脉冲时长表示该离子在基态和激发态之间变换所需的激光脉冲时间。 关注微信公众号专利查询网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 离子阱芯片参数标定方法及装置、电子设备和介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311443590.0
申请日 2023/11/1
公告号 CN117494829A
公开日 2024/2/2
IPC主分类号 G06N10/40
权利人 北京百度网讯科技有限公司
发明人 汪景波; 黄晨
地址 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层

专利主权项内容

1.一种离子阱芯片参数标定方法,包括:确定所述离子阱芯片中的一个或多个离子各自所在的位置;对于所述一个或多个离子中的每个离子,执行以下操作:通过激光器照射该离子,确定所述激光照射到该离子后的等效振幅;基于所述等效振幅,确定该离子对应的π脉冲时长,其中所述π脉冲时长表示该离子在基态和激发态之间变换所需的激光脉冲时间;以及基于所述π脉冲时长设置所述激光器的脉冲时间,并在第一预设范围内按第一预设步长改变所述激光器的频率,以确定声子频率、以及所述声子和该离子之间的耦合强度。 马 克 数 据 网