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抗能量分析攻击能力的检测方法及系统、设备和存储介质

申请号: CN202311514640.X
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司; 南京航空航天大学
申请日期: 2023/11/14

摘要文本

本发明公开了一种抗能量分析攻击能力的检测方法,检测方法用于检测NTT多项式乘法器,NTT多项式乘法器包括解密模块,检测方法包括:对NTT多项式乘法器输入数据;采集实际能量迹;攻击NTT多项式乘法器解密过程,并根据实际能量迹得到目标私钥;根据目标私钥和实际私钥得到私钥正确率;根据私钥正确率和设定阈值的比较结果确定NTT多项式乘法器的抗能量分析攻击能力。本发明的检测方法通过对NTT多项式乘法器进行攻击并根据实际能量迹得到目标子私钥,并根据目标子私钥和实际子私钥得到私钥正确率,根据私钥正确率和设定阈值的比较结果确定NTT多项式乘法器的抗能量分析能力,为检测基于NTT多项式乘法器的密码设备的安全可靠性提供了评估手段。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 抗能量分析攻击能力的检测方法及系统、设备和存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311514640.X
申请日 2023/11/14
公告号 CN117560135A
公开日 2024/2/13
IPC主分类号 H04L9/00
权利人 北京智芯微电子科技有限公司; 南京航空航天大学
发明人 成嵩; 崔益军; 高顺贤; 仲俊杰; 任娟; 卢传超; 卢健; 王成华; 刘伟强
地址 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼; 江苏省南京市秦淮区御道街29号

专利主权项内容

1.一种抗能量分析攻击能力的检测方法,其特征在于,所述检测方法用于检测NTT多项式乘法器,所述NTT多项式乘法器包括解密模块,所述解密模块用于根据密文和私钥进行解密得到明文,所述检测方法包括:对所述NTT多项式乘法器输入数据;采集实际能量迹,所述实际能量迹为所述解密模块的电压;使用攻击函数攻击所述NTT多项式乘法器的解密过程,并根据所述实际能量迹得到目标私钥,所述目标私钥由目标子私钥组成;根据所述目标私钥和实际私钥得到私钥正确率,所述实际私钥由实际子私钥组成,所述私钥正确率用于表示和实际子私钥相同的目标子私钥在所述目标私钥中的占比;根据所述私钥正确率和设定阈值的比较结果确定NTT多项式乘法器的抗能量分析攻击能力,在所述私钥正确率高于所述设定阈值时,所述NTT多项式乘法器的抗能量分析攻击能力为第一等级;在所述私钥正确率低于所述设定阈值时,所述NTT多项式乘法器的抗能量分析攻击能力为第二等级,所述第一等级低于所述第二等级。