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一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法

申请号: CN202311587399.3
申请人: 山东大学
申请日期: 2023/11/24

摘要文本

本发明公开一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法,涉及缺陷检测技术领域。包括以下步骤:向被测设备施加方波热源,对被测设备周期性加热,进行锁相热成像,所述方波中包含多个频率下的谐波;获取加热过程中被测设备表面的温度信号,所述温度信号包含多个频率下的信息;基于温度信号得到被测设备表面各个像素点多个频率下的频域信息,对多个频率下的频域信息进行处理,从而通过一次锁相热成像快速得到缺陷深度。本发明通过一次锁相红外热成像即可获得多个频率下的检测结果,大大缩短锁相红外热成像测量缺陷深度所需要的时间。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311587399.3
申请日 2023/11/24
公告号 CN117538378A
公开日 2024/2/9
IPC主分类号 G01N25/72
权利人 山东大学
发明人 张林; 麻波涛
地址 山东省济南市历城区山大南路27号

专利主权项内容

1.一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:向被测设备施加方波热源,对被测设备周期性加热,进行锁相热成像,所述方波中包含多个频率下的谐波;获取加热过程中被测设备表面的温度信号,所述温度信号包含多个频率下的信息;基于温度信号得到被测设备表面各个像素点多个频率下的频域信息,对多个频率下的频域信息进行处理,从而通过一次锁相热成像快速得到缺陷深度。