← 返回列表
一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法
摘要文本
本发明公开一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法,涉及缺陷检测技术领域。包括以下步骤:向被测设备施加方波热源,对被测设备周期性加热,进行锁相热成像,所述方波中包含多个频率下的谐波;获取加热过程中被测设备表面的温度信号,所述温度信号包含多个频率下的信息;基于温度信号得到被测设备表面各个像素点多个频率下的频域信息,对多个频率下的频域信息进行处理,从而通过一次锁相热成像快速得到缺陷深度。本发明通过一次锁相红外热成像即可获得多个频率下的检测结果,大大缩短锁相红外热成像测量缺陷深度所需要的时间。
申请人信息
- 申请人:山东大学
- 申请人地址:250061 山东省济南市历下区经十路17923号
- 发明人: 山东大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311587399.3 |
| 申请日 | 2023/11/24 |
| 公告号 | CN117538378A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G01N25/72 |
| 权利人 | 山东大学 |
| 发明人 | 张林; 麻波涛 |
| 地址 | 山东省济南市历城区山大南路27号 |
专利主权项内容
1.一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:向被测设备施加方波热源,对被测设备周期性加热,进行锁相热成像,所述方波中包含多个频率下的谐波;获取加热过程中被测设备表面的温度信号,所述温度信号包含多个频率下的信息;基于温度信号得到被测设备表面各个像素点多个频率下的频域信息,对多个频率下的频域信息进行处理,从而通过一次锁相热成像快速得到缺陷深度。