一种分区增量克隆的方法
摘要文本
本发明公开了一种分区增量克隆的方法,包括以下步骤:步骤S1,判断克隆是否为密保克隆,步骤S2,将获取到的数据位图存入安全区域;步骤S3,准备用于克隆的目标设备;步骤S4,确定是基准克隆还是增量克隆;步骤S5,创建增量克隆目标设备,步骤S6,判断是否存在差异位图;步骤S7,把有效数据写入到增量数据文件;步骤S8,获取目标设备的有效数据位图;步骤S9,得到克隆数据位图;步骤S10,从源设备拷贝数据到目标设备;步骤S11,结束克隆。通过本发明中的方法,可以在保证以克隆方式作为克隆数据的优势的情况下,有效的减少数据同步的数量,极大的提升数据克隆的工作效率。
申请人信息
- 申请人:成都艾勃科技有限公司
- 申请人地址:610059 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府大道北段1700号7栋1单元7层721号
- 发明人: 成都艾勃科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种分区增量克隆的方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410169795.2 |
| 申请日 | 2024/2/6 |
| 公告号 | CN117707438A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G06F3/06 |
| 权利人 | 成都艾勃科技有限公司 |
| 发明人 | 罗林 |
| 地址 | 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府大道北段1700号7栋1单元7层721号 |
专利主权项内容
1.一种分区增量克隆的方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤S1,判断克隆是否为密保克隆,如果不是,则获取源设备的数据位图;步骤S2,将获取到的数据位图存入安全区域,用于克隆时使用;步骤S3,准备用于克隆的目标设备;步骤S4,根据目标设备和源设备的设备参数确定是基准克隆还是增量克隆,如果是增量克隆就是进入到步骤S5;如果是基准克隆,则跳转到步骤S10;步骤S5,创建增量克隆目标设备对象,并计算增量克隆目标设备的数据位图;步骤S6,判断目标设备与源设备之间是否存在差异位图,如果目标设备与源设备不存在差异位图,则跳转到步骤S10;如果目标设备与源设备存在差异位图,则跳转到步骤S7;步骤S7,根据差异位图,把目标设备上的待覆盖的有效数据写入到克隆数据文件中;步骤S8,获取目标设备的有效数据位图;步骤S9,将目标设备分区的有效数据位图先与源设备分区的有效数据位图做逻辑运算,得到新的数据位图,再将新的数据位图与差异数据位图进行逻辑运算,得到克隆数据位图;步骤S10,根据得到的克隆数据位图,从源设备拷贝数据到目标设备;步骤S11,在目标设备上写入分区表;步骤S12,结束克隆。