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一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质
摘要文本
本发明的实施例提供了一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质，涉及光通信技术领域，其中，光组件抗反射测试装置包括：反射控制单元以及射频检测单元。被测光组件分别与反射控制单元、射频检测单元构成光回路。反射控制单元用于调节第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将第二光信号反射给被测光组件；射频检测单元用于检测第一光信号、第三光信号的射频参数，并依据射频参数确定被测光组件的抗反射值；本发明实施例可以快速测试去除隔离器后的光组件对反射光的抗反射值，以确定光组件的抵抗能力，并真实模拟光传输链路的实际情况，以便于观测者更为准确地评估去除隔离器的光组件对反射光的抵抗能力。
申请人信息
- 申请人:成都电科星拓科技有限公司
- 申请人地址:610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号7栋3单元14层1409号
- 发明人: 成都电科星拓科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410052253.7 |
| 申请日 | 2024/1/15 |
| 公告号 | CN117579139A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | H04B10/071 |
| 权利人 | 成都电科星拓科技有限公司 |
| 发明人 | 狄旭明; 胡世涛; 樊来泰; 董超然; 陶敏 |
| 地址 | 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号7栋3单元14层1409号 |
专利主权项内容
1.一种光组件抗反射测试装置，其特征在于，包括：反射控制单元以及射频检测单元；被测光组件分别与所述反射控制单元、所述射频检测单元构成光回路；所述被测光组件，用于接收第一电信号，在预设工作温度下将所述第一电信号转换为第一光信号，并将所述第一光信号反馈给所述反射控制单元以及所述射频检测单元；所述反射控制单元，用于调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件；其中，所述第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号；所述被测光组件，还用于接收所述第二光信号，以所述第二光信号为干扰信号调节所述第一光信号，得到第三光信号；将所述第三光信号反馈给所述射频检测单元；其中，所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小；所述射频检测单元，用于检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值。