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芯片转换时间违例修复方法、装置、电子设备及存储介质
摘要文本
本发明提供了一种芯片转换时间违例修复方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取前端设计阶段配置的初始转换时间阈值，并确定中间转换时间阈值，然后根据中间转换时间阈值迭代进行芯片物理设计，得到初始芯片布局信息，再根据中间转换时间阈值，确定目标转换时间阈值，最后根据目标转换时间阈值，对初始芯片布局信息进行布局调整，得到目标芯片布局信息。本发明通过分阶段的缩限和扩限转换时间阈值，从而实现转换时间的全面快速收敛，提高修复转换时间违例的效率，减小工作量，降低了开发时间成本。
申请人信息
- 申请人:成都电科星拓科技有限公司
- 申请人地址:610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号7栋3单元14层1409号
- 发明人: 成都电科星拓科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片转换时间违例修复方法、装置、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410137993.0 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117688893A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G06F30/392 |
| 权利人 | 成都电科星拓科技有限公司 |
| 发明人 | 林超; 朱俊; 赵建英; 刘鑫怡; 吕若兰 |
| 地址 | 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区府城大道西段399号7栋3单元14层1409号 |
专利主权项内容
1.一种芯片转换时间违例修复方法，其特征在于，所述方法包括：获取前端设计阶段配置的初始转换时间阈值；根据所述初始转换时间阈值，确定中间转换时间阈值，所述中间转换时间阈值所指示的上限值小于所述初始转换时间阈值所指示的上限值；根据所述中间转换时间阈值迭代进行芯片物理设计，得到初始芯片布局信息；根据所述中间转换时间阈值，确定目标转换时间阈值，所述目标转换时间阈值所指示的上限值大于所述中间转换时间阈值所指示的上限值；根据所述目标转换时间阈值，对所述初始芯片布局信息进行布局调整，得到目标芯片布局信息。 来自：马 克 团 队