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一种碳化硅封装热沉的制备方法

申请号: CN202410125228.7
申请人: 天津正新光电科技有限公司
申请日期: 2024/1/30

摘要文本

本发明提供一种碳化硅封装热沉的制备方法,所述制备方法包括如下步骤:(1)在碳化硅单晶衬底的正反面制备厚度为2000~20000A的氮化铝薄膜;(2)在氮化铝薄膜上制备金属种子层;(3)在金属种子层上依次电镀第一铜层、镍层和金层后,蒸发制备铂层;(4)在铂层上采用双电子枪同时蒸发金和锡制备金锡焊料层,得到所述碳化硅封装热沉。本发明所述的制备方法操作简单,得到的碳化硅封装热沉的热导率高且绝缘性好,具有大规模推广应用前景。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种碳化硅封装热沉的制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410125228.7
申请日 2024/1/30
公告号 CN117650053A
公开日 2024/3/5
IPC主分类号 H01L21/48
权利人 天津正新光电科技有限公司
发明人 贾晓霞; 李军; 王勇
地址 天津市滨海新区天津自贸试验区(空港经济区)东九道69号生产楼二、二层

专利主权项内容

1.一种碳化硅封装热沉的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:(1)在碳化硅单晶衬底的正反面制备厚度为2000~20000A的氮化铝薄膜;(2)在氮化铝薄膜上制备金属种子层;(3)在金属种子层上依次电镀第一铜层、镍层和金层后,蒸发制备铂层;(4)在铂层上采用双电子枪同时蒸发金和锡制备金锡焊料层,得到所述碳化硅封装热沉。