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一种可降低单粒子故障影响的图片识别架构
摘要文本
本发明提供一种可降低单粒子故障影响的图片识别架构，包括，步骤一，确定关键神经元，通过对抗样本进行梯度攻击以确定图片识别架构中所有关键神经元；步骤二，确定关键路径，图片识别架构的每层均添加mack参数，以获取每层内单个路径的mack输出，设定mack阈值，依据mack阈值确定与关键神经元连接的关键路径分布；步骤三，分担权重，为关键神经元添加若干冗余神经元，冗余神经元上构建与对应关键神经元相同连接关系的关键路径，使用L2正则化为冗余神经元和对应关键神经元重新配置权重。本发明能够提高图片识别架构的抗单粒子干扰能力。
申请人信息
- 申请人:天津普智芯网络测控技术有限公司
- 申请人地址:300450 天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区海泰西路18号北2楼303
- 发明人: 天津普智芯网络测控技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种可降低单粒子故障影响的图片识别架构 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410194678.1 |
| 申请日 | 2024/2/22 |
| 公告号 | CN117764120A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G06N3/0464 |
| 权利人 | 天津普智芯网络测控技术有限公司 |
| 发明人 | 张大伟; 屈粮富; 马慧娟; 姚文达 |
| 地址 | 天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区海泰西路18号北2楼303 |
专利主权项内容
1.一种可降低单粒子故障影响的图片识别架构，其特征在于，包括，步骤一，确定关键神经元，通过对抗样本进行梯度攻击以确定图片识别架构中所有关键神经元；步骤二，确定关键路径，图片识别架构的每层均添加mack参数，以获取每层内单个路径的mack输出，设定mack阈值，依据mack阈值确定与关键神经元连接的关键路径分布；步骤三，分担权重，为关键神经元添加若干冗余神经元，冗余神经元上构建与对应关键神经元相同连接关系的关键路径，使用L2正则化为冗余神经元和对应关键神经元重新配置权重。