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一种存储器及其坏块纠错方法
摘要文本
本发明提供了一种存储器及其坏块纠错方法,包括:存储块,其包括问题块与可用块;以及主控器,用以对问题块进行有效数据搬移处理,以将其内部数据搬移至可用块后,暂存于校验清单中;其中,主控器确定存储器处于空闲状态时,执行的动作为依次对校验清单中的问题块进行校验处理;主控器用以生成校验数据,并根据校验数据对问题块进行串行块校验处理;主控器确定问题块不属于被误判的存储块时,执行的动作为确认问题块为坏块,并丢弃;主控器确定问题块属于被误判的存储块时,执行的动作为确认问题块为可用块,并重新放入可用列表中。通过本发明提供的一种存储器及其坏块纠错方法,能够对问题块进行纠错,防止误判。
申请人信息
- 申请人:合肥康芯威存储技术有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
- 发明人: 合肥康芯威存储技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储器及其坏块纠错方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410205092.0 |
| 申请日 | 2024/2/26 |
| 公告号 | CN117789808A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G11C29/44 |
| 权利人 | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 发明人 | 张烊瑞; 王守磊 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层 |
专利主权项内容
1.一种存储器,其特征在于,包括:存储块,其包括问题块与可用块;以及主控器,用以对所述问题块进行有效数据搬移处理,以将其内部数据搬移至所述可用块后,暂存于校验清单中;其中,所述主控器确定存储器处于空闲状态时,执行的动作为依次对所述校验清单中的问题块进行校验处理;所述主控器用以生成校验数据,并根据所述校验数据对问题块进行串行块校验处理;所述主控器确定问题块不属于被误判的存储块时,执行的动作为确认所述问题块为坏块,并丢弃;所述主控器确定问题块属于被误判的存储块时,执行的动作为确认所述问题块为可用块,并重新放入可用列表中。