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基于导频的束流位置测量方法与系统

申请号: CN202410003040.5
申请人: 中国科学技术大学
申请日期: 2024/1/2

摘要文本

本发明公开了一种基于导频的束流位置测量方法与系统,它们是一一对应的方案,方案包括:基于束流信号,产生两个非对称的导频信号;将两个导频信号合成后与束流信号进行耦合;将耦合后的信息进行调理与数字化转换;从数字化信号中测量两个导频信号的幅度,以及束流信号的幅度,利用两个导频信号的幅度对束流信号的幅度进行补偿,再利用补偿后的束流信号幅度计算束流位置。上述方案采用非对称导频信号减小了导频信号和束流信号的三阶交调分量对位置测量的影响,显著提高了全数字化束流位置测量系统的位置分辨率,并且可以有效抑制温漂长漂对位置测量的影响,提高了全数字化束流位置测量系统的稳定性。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于导频的束流位置测量方法与系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410003040.5
申请日 2024/1/2
公告号 CN117518229A
公开日 2024/2/6
IPC主分类号 G01T1/29
权利人 中国科学技术大学
发明人 赵雷; 唐羿; 秦家军; 曹喆; 陈楷仁; 李嘉铭
地址 安徽省合肥市包河区金寨路96号

专利主权项内容

1.一种基于导频的束流位置测量方法,其特征在于,包括:步骤1、基于束流信号,产生两个非对称的导频信号;步骤2、将两个导频信号合成后与束流信号进行耦合;步骤3、将耦合后的信息进行调理与数字化转换;步骤4、从数字化信号中测量两个导频信号的幅度,以及束流信号的幅度,利用两个导频信号的幅度对束流信号的幅度进行补偿,再利用补偿后的束流信号幅度计算束流位置。 详见官网:www.macrodatas.cn