一种多通道高速高阻量测系统及量测方法
摘要文本
本发明公开了一种多通道高速高阻量测系统及量测方法，属于芯片测量领域，包括可编程电源、测试主机PC和量测主板，所述测试主机PC和量测主板通信连接；量测主板内设有微控制单元MCU和量测单元，微控制单元MCU和量测单元通信连接，量测单元的数量设置为1‑63个，测试主机PC和可编程电源连接，量测单元内部设有量测芯片ADC，量测芯片ADC和微控制单元MCU通信连接。本发明方便一次对多个待测器件一起进行测试，本发明的多组测试单机的使用，会使测试时的切换速度增加，缩短测试时间，提高测试的效果和效率，本发明方便多组大资料的数据传输，避免数据的丢失，增加数据传输的安全性，降低测试器件的成本，方便装置的使用，保证安全性。
申请人信息
- 申请人:合肥巨阙电子有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新区明珠产业园3栋A区2楼
- 发明人: 合肥巨阙电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种多通道高速高阻量测系统及量测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410098361.8 |
| 申请日 | 2024/1/24 |
| 公告号 | CN117607546A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G01R27/02 |
| 权利人 | 合肥巨阙电子有限公司 |
| 发明人 | 赵德喜; 蒯正建; 汪超; 余舒成 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区明珠产业园3栋A区2楼 |
专利主权项内容
1.一种多通道高速高阻量测系统，其特征在于，包括可编程电源、测试主机和量测主板，所述测试主机和量测主板通信连接；所述量测主板内设有微控制单元MCU和量测单元，微控制单元MCU和量测单元通信连接，一个量测单元设有5个测量通道，测量通道和待测物通电连接，一个量测单元用于一次对5个待测物进行电阻的测量；所述量测单元的数量设置为1-63个，用于一次对多个待测器件进行测试阻值；所述测试主机和可编程电源连接，可编程电源和测量通道的一端连接，可编程电源为偏置电压；所述量测单元内部设有量测芯片ADC，量测芯片ADC和微控制单元MCU通信连接，量测芯片ADC用于对每个待测物进行阻值的测量，并将测量的结果传输到微控制单元MCU中；所述量测单元内部设有第一MUX逻辑门电路、第二MUX逻辑门电路，量测单元上设有连接器，连接器和5组测量通道连接，连接器通过电压检测线和第一MUX逻辑门电路连接，连接器通过电流检测线和第二MUX逻辑门电路连接，第一MUX逻辑门电路、第二MUX逻辑门电路输出端和量测芯片ADC连接，量测芯片ADC对待测器件的数据进行分析；所述量测单元内部设有恒压电源，恒压电源和第一MUX逻辑门电路、第二MUX逻辑门电路、量测芯片ADC、微控制单元MCU通电连接；所述微控制单元MCU输出端和第一MUX逻辑门电路、第二MUX逻辑门电路通信连接。 关注公众号马 克 数 据 网