一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法
摘要文本
本发明公开了一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：调试通道板，生成专属ID并写入EEPROM；选择对应信号，计算偏移和增益参数，存储并校准ADC；对专用测试芯片进行DC校准，将数据存储在EWS和通道板内；测试时，读取每个SLOT的通道板卡ID，根据SLOT与ID的关系调用EWS内校准数据，计算下发值至通道板内；第二可编程逻辑器件将控制数据分发至专用测试芯片；测试中，第二可编程逻辑器件根据当前测试项目和温度从校准数据存储器件读取校准数据，代入专用测试芯片；第一可编程逻辑器件生成测试向量进行测试；本发明用有限的存储空间提高了存储精度。
申请人信息
- 申请人:悦芯科技股份有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
- 发明人: 悦芯科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410080834.1 |
| 申请日 | 2024/1/19 |
| 公告号 | CN117612594A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G11C29/50 |
| 权利人 | 悦芯科技股份有限公司 |
| 发明人 | 宋秀良; 钱黄生; 刘金海; 薛如军; 徐茂强 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层 |
专利主权项内容
1.一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法，其特征在于，基于通道板、EEPROM存储通道板、校准数据存储器件、第一可编程逻辑器件、第二可编程逻辑器件、专用测试芯片和EWS，包括以下步骤：对通道板进行调试，生成通道板的专属ID写入到EEPROM中；对通道板内部ADC进行两点法校准，ADC选择输入GND_REF信号，计算出偏移参数；ADC选择输入3V_REF信号，计算出增益参数；将偏移参数和增益参数存储并对ADC进行校准；通过校准后的ADC对专用测试芯片进行DC校准，将校准数据分别存储在EWS和通道板内校准数据存储器件；测试时，首先读取每个SLOT对应的通道板卡ID，EWS根据SLOT与ID的对应关系，调用EWS内的校准数据，计算后得出下发的值通过LAN口下发到通道板内的Interface，Interface经过AURORA转接发给第二可编程逻辑器件；第二可编程逻辑器件将控制数据依次分发至专用测试芯片；测试中，第二可编程逻辑器件根据当前测试项目和专用测试芯片温度从校准数据存储器件读取校准数据，计算代入到专用测试芯片；第一可编程逻辑器件生成测试向量进行测试。