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一种存储器的故障测试系统以及方法
摘要文本
本发明提供了一种存储器的故障测试系统，包括：多功能测试主板，被配置为与多个待测存储器通讯连接，其中，所述多功能测试主板上设有可编程处理器，所述可编程处理器用以进行相应的接口资源配置，以生成多通道通讯协议；主机端，用以将多个带有连续编号的不同的测试文件通过所述多通道通讯协议下发至对应的所述待测存储器中；其中，所述待测存储器用以根据对应的所述测试文件进行测试，以生成相应的测试结果；所述可编程处理器还用以根据测试结果生成测试日志；所述主机端还用以对所述测试日志进行分析统计处理，生成故障测试报表。通过本发明提供的一种存储器的故障测试系统以及方法，能够提升存储器的故障测试效率。
申请人信息
- 申请人:合肥康芯威存储技术有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
- 发明人: 合肥康芯威存储技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种存储器的故障测试系统以及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410094844.0 |
| 申请日 | 2024/1/24 |
| 公告号 | CN117608947A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 发明人 | 余玉; 许展榕 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层 |
专利主权项内容
1.一种存储器的故障测试系统，其特征在于，包括：多功能测试主板，被配置为与多个待测存储器通讯连接，其中，所述多功能测试主板上设有可编程处理器，所述可编程处理器用以根据所述待测存储器的类型，进行相应的接口资源配置，以生成多通道通讯协议；以及主机端，通讯连接于所述可编程处理器，用以将多个带有连续编号的不同的测试文件通过所述多通道通讯协议下发至对应的所述待测存储器中；其中，所述待测存储器用以根据对应的所述测试文件进行测试，以生成相应的测试结果；所述可编程处理器还用以根据测试结果生成测试日志；所述主机端还用以对所述测试日志进行分析统计处理，生成故障测试报表。。 （来源 马克数据网）