一种基于测试设备的存储芯片的修复方法
摘要文本
本发明公开了一种基于测试设备的存储芯片的修复方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：采集存储芯片中的失效单元电路信息；将区块编号作为存储键值，失效单元电路坐标作为存储值，构建X‑Y和Y‑X哈希表结构；对哈希表进行遍历，若存在超过预设阈值的失效单元电路集合，则将该集合称为特定失效单元电路，分配特定类型备用电路修复该区域；若无可用的备用电路，则标记并删除该存储芯片；若不存在超过预设阈值的失效单元电路集合，则将该集合称为稀疏失效单元电路，获取最大的集合值，分配备用电路，若无可用的备用电路，则标记并删除该存储芯片；若有可用的备用电路，则正常修复；本发明提升了对失效单元电路的修复利用率。 （更多数据，详见马克数据网）
申请人信息
- 申请人:悦芯科技股份有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
- 发明人: 悦芯科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于测试设备的存储芯片的修复方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410179287.2 |
| 申请日 | 2024/2/18 |
| 公告号 | CN117727356A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G11C29/44 |
| 权利人 | 悦芯科技股份有限公司 |
| 发明人 | 潘志富; 刘金海; 李海涛; 郭琦; 何肖珉 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层 |
专利主权项内容
1.一种基于测试设备的存储芯片的修复方法，其特征在于，包括以下步骤：测试设备连接存储芯片进行测试，将存储芯片划分为若干个区块并编号，从二进制测试日志中提取存储芯片中的失效单元电路信息；统计不同区块下的失效单元电路的数量，将任一区块的编号作为存储键值，该区块的失效单元电路数量和失效单元电路坐标信息(X，Y)作为存储值，将所有的失效单元电路信息存储到哈希表数据结构中；在任一区块中，分别以任一X地址位作为键值，对应的Y地址位的集合作为存储值，得到X-Y哈希表结构；分别以任一Y地址位作为键值，对应X地址位集合作为存储值，得到Y-X哈希表结构；分别对X-Y哈希表结构和Y-X哈希表结构进行遍历，获取任一X地址位对应的Y地址位集合Gx，任一Y地址位对应的X地址位集合Gy，若存在集合Gx的数值大于列备用电路用于修复列方向的最大数量，则任意分配一组行备用电路修复；若存在集合Gy的数值大于行备用电路用于修复行方向的最大失效单元电路数；则任意分配一组列备用电路修复；若无可分配的行/列备用电路，则标记并删除该存储芯片，并更新哈希表结构，停止遍历；若有可分配的行/列备用电路，则更新X-Y和Y-X哈希表结构，删除已修复的失效单元电路地址信息；比较删除后的X-Y和Y-X哈希表结构中，每个键值对应的存储值的集合大小，获取最大的集合值M，若M对应的是X地址位坐标，则分配行备用电路，若M对应的是Y地址位坐标，则分配列备用电路，若无可使用备用电路，则标记该存储芯片并删除；若有可使用备用电路，则记录该备用电路使用情况，更新X-Y和Y-X哈希表结构，删除已修复的失效单元电路地址信息，直至X-Y和Y-X哈希表结构中数据值为空，停止遍历，则该存储芯片能够被正常修复。