一种存储芯片的检测系统及检测方法

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本发明提供一种存储芯片的检测系统及检测方法，检测系统包括平台测试模块，用以测试待测芯片的工作状态，当所述待测芯片处于正常工作状态时，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机，以生成所述待测芯片正常工作状态下的测试结果；以及分析子板模块，与所述平台测试模块通信连接；其中，当所述待测芯片处于异常工作状态时，所述分析子板模块向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式，所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机，以生成所述待测芯片异常工作状态下的测试结果。本发明可以在存储芯片不解焊的情况下，获取其无法实现错误检查和纠正的原因。