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样品台扫描位点的复位控制方法、装置及系统和存储介质

申请号: CN202410172155.7
申请人: 国仪量子技术(合肥)股份有限公司
申请日期: 2024/2/7

摘要文本

本发明公开了一种样品台扫描位点的复位控制方法、装置及系统和存储介质,涉及扫描电镜技术领域,其中复位控制方法包括:获取样品台倾角调节前,样品台上目标扫描点的三轴等效坐标参数、倾斜轴的倾斜角以及旋转轴的旋转角中的至少部分信息,以及样品台倾角调节后,倾斜轴的倾斜角和旋转轴的旋转角;并根据上述参数信息确定三轴平移组件的复位位移量;根据复位位移量控制三轴平移组件的移动,以使样品台的扫描位点复位至样品台倾角调节前的位置。本发明提供的技术方案,能够在调节样品台倾角后自动复位扫描位点,使电子束聚焦位置处的样品扫描位点在倾角调节前后保持一致,提高样品台倾斜/旋转调节复位控制的便捷性和精度。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 样品台扫描位点的复位控制方法、装置及系统和存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410172155.7
申请日 2024/2/7
公告号 CN117727610A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 H01J37/02
权利人 国仪量子技术(合肥)股份有限公司
发明人 郑传懋; 吴天成; 曹峰; 张伟; 贺羽
地址 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼A区1-4层

专利主权项内容

1.一种样品台扫描位点的复位控制方法,其特征在于,用于在调节样品台的倾角后控制样品台的扫描位点的自动复位;所述样品台的空间位置由三轴平移组件、旋转轴以及倾斜轴控制;所述样品台扫描位点的复位控制方法包括:获取所述样品台倾角调节前,所述样品台上目标扫描点的三轴等效坐标参数、所述倾斜轴的倾斜角以及所述旋转轴的旋转角中的至少部分信息;以及,获取所述样品台倾角调节后,所述倾斜轴的倾斜角和所述旋转轴的旋转角;根据所述样品台倾角调节前所述目标扫描点的三轴等效坐标参数、所述倾斜轴的倾斜角以及所述旋转轴的旋转角中的至少部分信息,和所述样品台倾角调节后所述倾斜轴的倾斜角和所述旋转轴的旋转角,确定所述三轴平移组件的复位位移量;根据所述复位位移量控制所述三轴平移组件的移动,以使样品台的扫描位点复位至样品台倾角调节前的位置。