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一种氮化镓HEMT器件及其制备方法
摘要文本
本发明属于氮化镓HEMT器件技术领域,具体涉及一种氮化镓HEMT器件及其制备方法,其自一侧向另一侧依次设置有衬底、成核层、缓冲层、插入层、AlGaN势垒层、SiN帽层和钝化层,插入层和AlGaN势垒层形成异质结,所述SiN帽层经过氧等离子体处理,氧等离子体处理时,上电极功率为50~600 W,下电极功率为0~100 W,不为0。通过氧等离子体处理原位生长SiN帽层的方法降低了氮化镓HEMT中的关态漏电,提高了开关选择比,降低表面粗糙度,提高栅极肖特基势垒高度,提高了击穿电压。
申请人信息
- 申请人:山东大学
- 申请人地址:250000 山东省济南市历城区山大南路27号
- 发明人: 山东大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种氮化镓HEMT器件及其制备方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410088982.8 |
| 申请日 | 2024/1/23 |
| 公告号 | CN117613082A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | H01L29/778 |
| 权利人 | 山东大学 |
| 发明人 | 崔鹏; 罗鑫; 韩吉胜; 汉多科·林纳威赫; 徐现刚 |
| 地址 | 山东省济南市历城区山大南路27号 |
专利主权项内容
1. 一种氮化镓HEMT器件,其特征在于:其自一侧向另一侧依次设置有衬底、成核层、缓冲层、插入层、AlGaN势垒层、SiN帽层和钝化层,插入层和AlGaN势垒层形成异质结,所述SiN帽层经过氧等离子体处理,氧等离子体处理时,上电极功率为50~600 W,下电极功率为0~100 W,不为0。。关注公众号