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一种基于测地线模型的自适应割方法及设备

申请号: CN202410008844.4
申请人: 齐鲁工业大学(山东省科学院); 山东省人工智能研究院
申请日期: 2024/1/4

摘要文本

本发明涉及图像分割技术领域,具体涉及一种基于测地线模型的自适应割方法及设备,方法的具体步骤如下:输入目标图像,给定位与目标图像的目标区域内部的点;构建边缘特征函数;计算得到给定图像的边缘外观特征,构建边缘度量函数;计算到图像边界的自适应割;模型中包含测地线方法和边缘度量函数,自适应割方法能够通过目标区域边缘,使目标轮廓与自适应割仅存在一个交点,为后续各种各样的分割方法提供有利条件;同时,自适应割使用边缘度量函数,该指标在目标轮廓处具有高的函数值,其他区域具有低函数值,这种度量促使自适应割沿着梯度下降的方法传播。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于测地线模型的自适应割方法及设备
专利类型 发明授权
申请号 CN202410008844.4
申请日 2024/1/4
公告号 CN117522902B
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G06T7/11
权利人 齐鲁工业大学(山东省科学院); 山东省人工智能研究院
发明人 刘丽; 张伟杰; 陈达; 王友明; 梁宏达
地址 山东省济南市西部新城大学科技园; 山东省济南市历下区科院路19号

专利主权项内容

1.一种基于测地线模型的自适应割方法,其特征是,包括如下步骤:S1.输入目标图像I,并给定位于目标图像I中目标区域内部的固定源点p∈Ω;S2.通过将目标图像I与高斯核的梯度算子进行卷积,计算得到基于图像梯度度量构造的给定图像的边缘特征函数,然后进行归一化操作,生成新的边缘特征函数;S2具体步骤如下:S21.将目标图像I与高斯核的梯度算子进行卷积,得到边缘外观特征,所述边缘特征函数具体表达式如下:其中*是卷积运算符,G表示标准导数为σ的高斯核,和/>分别表示沿x轴和y轴方向的偏导数,I代表目标图像的第k维,n为目标图像的维数,∑为求和符号,X表示目标图像上的点;σkS22.将边缘特征函数J(·)的大小归一化到范围[0, 1]内生成新的边缘特征函数g(·),具体表达式如下:其中∥J∥是边缘特征函数J的正无穷大范数,X表示目标图像I上的点;∞S3.根据新的边缘特征函数中目标图像的边缘结构信息构建边缘度量函数;S3具体步骤如下:S31.Lipschitz连续曲线γ为空间[0.1]到空间Ω的映射,记作γ : [0, 1]→Ω,Lipschitz连续曲线γ的加权曲线长度记作用公式表示为:其中,γ'=dγ/du表示Lipschitz连续曲线γ的一阶导数,φ(·)为空间Ω到空间的映射范围内的度量函数,记作φ : />表示一维正实数空间;S32.根据新的边缘特征函数g(·)提供的目标图像I的边缘结构信息构建边缘度量函数,度量函数φ(·)根据定义等于边缘度量函数φ(·),记作φ : =φ, : =表示根据定义等于;strstrS33.边缘度量函数φ(·)表示为:strφ(x)=exp(τg(X))+ω,str其中τ、ω是正常数,g(·)是新的边缘特征函数;S4.通过使用测地线距离图上的梯度下降常微分方程的解/>来获得到图像边界的自适应割的参数化曲线C;pS4具体步骤如下:S41.确定自适应割参数化曲线C的终点b,通过公式:p其中,p表示目标区域内部的固定源点,表示以p为源点,X为终点的测地线距离图,argmin表示求/>最小时参数的取值,/>表示图像定义域Ω的偏微分表示图像的边界;S42.通过测地线距离图上的梯度下降常微分方程的解/>获得自适应割的参数化曲线C,通过与边界条件/>的边缘度量函数φ(·)关联的Eikonal偏微分方程获得测地线距离图/>测地线距离图/>为空间Ω到空间/>的映射,/>表示包含0和正实数的非负实数集;pstrS43.测地线距离图的计算公式为:/>其中表示包含0和正实数的非负实数集,inf表示函数的下确界,Lip([0, 1], Ω)表示包含所有Lipschitz连续曲线γ : [0, 1]→Ω的集合,p为目标区域内部给定的固定源点,为曲线γ : [0, 1]→Ω的能量函数,X表示目标图像中的一个点;S44.梯度下降常微分方程ODE的计算公式为:其中,翻转路径/>表示翻转路径,/>表示对/>求导,/>表示梯度算子, />表示/>的标准欧氏梯度,目标图像I上的点X∈Ω, p是一固定源点,当目标点X到达源点p时运算终止,分别令/>通过翻转路径/>检索弧长参数化的测地线路径/>S45.测地线距离图满足如下Eikonal偏微分方程:其中,表示图像的定义域Ω与目标区域内部的固定源点p的差集,/>表示梯度算子,/>表示/>的标准欧氏梯度,φ(X)表示度量函数。