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用于瓦楞纸厚度计量检测系统

申请号: CN202410225772.9
申请人: 山东京东包装有限公司
申请日期: 2024/2/29

摘要文本

本发明涉及瓦楞纸检测领域,具体公开了用于瓦楞纸厚度计量检测系统,现有的瓦楞纸在其进行检测时通常是通过输送设备或是由检测人员将瓦楞纸放置在检测台的表面,而当检测之后再将不同厚度的瓦楞纸进行分类摆放,而此操作则导致检测后续的操作繁琐,影响其检测效率的同时降低瓦楞纸的加工效率。本发明由检测装置能够根据不同的瓦楞纸厚度进行调整,方便后续对不同厚度的瓦楞纸朝向不同的方向进行下料处理,进而在对瓦楞纸进行厚度检测的同时能够根据不同厚度使其朝向不同的方向下料。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 用于瓦楞纸厚度计量检测系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410225772.9
申请日 2024/2/29
公告号 CN117804309A
公开日 2024/4/2
IPC主分类号 G01B5/06
权利人 山东京东包装有限公司
发明人 孙祥仁; 赵梓智
地址 山东省淄博市淄川经济开发区中一先进制造产业城D区D1号

专利主权项内容

1.一种用于瓦楞纸厚度计量检测系统,其特征在于:包括呈水平设置的检测台(1),所述检测台(1)的顶部设置有检测瓦楞纸厚度的检测装置(2),所述检测装置(2)包括竖直设置在检测台(1)上的承载座(21),所述承载座(21)的顶部设置有推动电缸(23),所述承载座(21)内开设有内腔室(24),所述内腔室(24)中设有测试件(3),所述承载座(21)上设置有与检测台(1)接触的水准块(22)。