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专利摘要

本发明公开了用于手性粒子光学检测和分选的装置及方法,装置由激光器、非偏振分光棱镜、反射镜、矢量光场生成系统、计算机和高数值孔径物镜组成;方法通过计算机控制矢量光场生成系统,将激光器发出的激光裁剪为具有特定空间分布的矢量光场,并利用高数值孔径物镜将其聚焦,在物镜焦场区域生成横向自旋横向光针焦场。
当手性粒子与横向自旋横向光针焦场相互作用时,作用在粒子上的非手性梯度力被光针焦场抑制,且不同手性的粒子将在手性梯度力的作用下被捕获在光针焦场的不同位置,并以不同的频率在捕获位置发生自转。
本发明不仅可以实现对分子手性的探测,而且能够无损伤地对手性粒子进行分选,在一系列涉及手性光学的领域都有着广阔的应用前景。

专利状态

基础信息

专利号
CN201911082639.8
申请日
2019-11-07
公开日
2021-06-25
公开号
CN110899144B
主分类号
/B/B07/ 作业;运输
标准类别
将固体从固体中分离;分选
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

芮光浩 李影 顾兵 崔一平 詹其文

申请人

东南大学

申请人地址

210096 江苏省南京市玄武区四牌楼2号

专利摘要

本发明公开了用于手性粒子光学检测和分选的装置及方法,装置由激光器、非偏振分光棱镜、反射镜、矢量光场生成系统、计算机和高数值孔径物镜组成;方法通过计算机控制矢量光场生成系统,将激光器发出的激光裁剪为具有特定空间分布的矢量光场,并利用高数值孔径物镜将其聚焦,在物镜焦场区域生成横向自旋横向光针焦场。
当手性粒子与横向自旋横向光针焦场相互作用时,作用在粒子上的非手性梯度力被光针焦场抑制,且不同手性的粒子将在手性梯度力的作用下被捕获在光针焦场的不同位置,并以不同的频率在捕获位置发生自转。
本发明不仅可以实现对分子手性的探测,而且能够无损伤地对手性粒子进行分选,在一系列涉及手性光学的领域都有着广阔的应用前景。

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